Descripción
Para las mediciones de rutina del espesor de la película delgada y el índice de refracción, este elipsómetro le permite montar una muestra, elegir el modelo que coincida con su película y presionar “medir”. Tienes resultados en segundos.
Alpha-SE
Alpha-SE
Especificaciones Técnicas
Aplicaciones
Películas dieléctricas: con una velocidad de medición rápida y un funcionamiento con botón pulsador, el alpha-SE® es ideal para calificar películas delgadas. Los dieléctricos de una sola capa en sustratos de silicio o vidrio se pueden medir en segundos. Registre resultados para comparaciones fáciles de usar en formatos gráficos y tabulares.
Monocapas autoensambladas : la información de fase de una medición de elipsometría espectroscópica es muy sensible a películas muy finas (& lt; 10nm). Las monocapas autoensambladas se pueden evaluar y comparar rápidamente usando el alfa-SE.
Películas absorbentes : los modelos avanzados proporcionan ajustes rápidos y eficientes para una amplia variedad de materiales que puede encontrar.
Recubrimiento sobre vidrio : la tecnología patentada permite realizar mediciones precisas en cualquier sustrato: metal, semiconductor o vidrio. En sustratos transparentes, el alpha-SE® mide la despolarización para corregir la luz que retorna desde la parte posterior del sustrato. Esta luz no deseada puede confundir a otros elipsómetros, pero el alpha-SE® garantiza constantes ópticas precisas.
Opciones
Célula líquida de 500 µL
- capacidad líquida de 500 µL
- ángulo de incidencia de 70 °
- Diseñado para portaobjetos de vidrio y amp; 1 ”o 2” obleas
QCM-D
Etapa de inclinación diseñada para contener microbalanza de cristal de cuarzo Q-Sense QCM-D (serie E con cámara E1)
Montaje de la transmisión
Mantiene la muestra verticalmente en la trayectoria del haz de luz para permitir mediciones de transmisión de incidencia normal.
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